太陽光模擬器測量光譜致合度的方法有哪些？

　　你知道要如何量測太陽光模擬器的光譜致合度嗎？在量測光譜致合度前，我們需要確認模擬器可適用于光譜匹配測量任務，并且確保模擬器的靈敏度適合于所要量測的波長范圍。

　　

　　若使用脈沖式模擬器，需要注意許多事項，包含：

　　

　　1、光譜儀的積分時間應適合模擬器的脈沖長度。

　　

　　2、模擬器的光譜可能會在光脈沖期間發生變化。

　　

　　3、在光譜偏移的情況下，輻照度監視器和待測樣品之間光譜響應度的差異將會引入光譜失配誤差。

　　

　　4、積分時間應小于脈沖長度的一半。

　　

　　另外，根據IEC60904-9的說明，可能決定光譜輻照度測量質量的特性參數包含：波長分辨率、光譜輻射計、雜散光或二階波長效應、輸入光學器件的角度響應。

　　

　　除了特性參數，量測太陽光模擬器的光譜致合度也有許多可用的測量技術。根據IEC60904-9的說明，以下特性參數可能決定光譜輻照度測量的質量：

　　

　　波長分辨率：光譜儀的波長分辨率在可見光范圍（300nm至900nm）內應等于或優于5nm，在近紅外范圍內（900nm至1200nm）應等于或優于10nm。(注意：波長分辨率是分光輻射計分離兩條靠近的光譜線的能力的量度)

　　

　　光譜輻射計通常在低輻照度水平下使用鎢校準燈進行校準。然而，太陽模擬器的光譜強度可能與校準條件有很大不同。

　　

　　欲量測太陽光模擬器的光譜致合度有許多可用的測量技術。然而，CCD光譜輻射計技術由于其緊湊的尺寸和出色的光譜性能而成為常見的技術。

　　

　　使用CCD光譜儀進行光譜輻照度測量通常需要使用兩臺儀器來涵蓋完整的波長范圍（例如：分別使用Si和InGaAs檢測器）。SiCCD通常覆蓋300-1100nm，InGaAsCCD可以覆蓋900-1700nm。

　　

　　結合這兩種儀器和適當的余弦校正光學器件，可以適當地測量太陽光模擬器的光譜分布。